BGA272測試座

產品規格：
測試座材料：　pei/pps
座頭材料：鋁合金6061/pei
探針類型： 彈簧探針pogo pin
工作溫度：-40 ~ 140度
探針機械壽命： 100k次
探針彈力：20g ~ 40g
功能：
※ 可對未寫保護的ic進行清空（格式化），測試ic好壞，大小容量，讀取拷貝。※ 如客戶手機損壞，字庫里的資料很重要，可以用我們的座子讀取到里面的資料找回，手機維修，數據恢復的利器。
※ 客戶常問這種測試座可不可以燒錄資料進ic？※ 答：可以，但需要燒錄資料的相應軟件，但我們不是芯片方案商，無法提供燒錄軟件，客戶需自己有燒錄軟件方可燒錄，否則只能像u盤一樣拷貝。
產品特點：
※根據客戶的具體需求，如頻率，電流，阻抗等，提供合適的探針、材料和測試結構，實現客戶的測試需求。
※測試座的結構可以根據客戶的需求定制，提供浮板設計，提供更好的接觸，有效的保護被測芯片，提高測試壽命。
※探針可更換，拆卸簡單，便于維護。
※ 支持熱拔插，可直接插讀卡器與電腦連接測試；
※ 兼容有球無球測試，通用性好，降低使用成本，可根據ic選擇不同大小限位框進行更換，實現不同大小ic能夠通用；
※ 同時兼容：東芝、三星、海力士、intel 、sandisk(新帝) 等品牌ic；
※ 采用進口雙頭探針，性能穩定使用壽命長，使用壽命是同類產品的10倍以上；
※ 維護方便，不良探針可更換，重復利用率較高，降低使用成本；
※ 采用翻蓋式結構,更加便于手動測試，操作方便簡單；
※ 采用模具整體成型加彈簧自適應結構，保證不同厚度的ic不需要任何調整即可保證其接觸良好測試ic通用性廣（厚度0.6-2.0mm 范圍都可測試）；
※ 采用浮板結構,定位**,取放ic方便，工作效率更高；
定制翻蓋 socket尺寸：
序號
座頭尺寸
類型
1
24x34
合金翻蓋
2
25x30.5
塑膠翻蓋
3
32x45
塑膠/合金/旋鈕翻蓋
4
50x50
旋鈕翻蓋
名稱
引腳數
間距
尺寸
bga132/152
88
1.0
12x18/14x18
bga272/304
160
0.8
14x18
bga252
160
0.8
12x18
bga316
166
0.8
14x18
emmc
153
0.5
13x11.5
emcp
254
0.5
13x11.5
emcp
221
0.5
13x11.5
ddr3/4
78
0.8
96
0.8
lpddr
178
0.65/0.8
11.5x11
lpddr
200
0.65/0.8
14.5x10