直流數(shù)字電壓表電路圖-數(shù)字電壓-傳感ic電子驅(qū)動ic

數(shù)字ic后端設(shè)計(一)
1. 數(shù)據(jù)準(zhǔn)備。
對于 cdn 的 silicon ensemble而言后端設(shè)計所需的數(shù)據(jù)主要有是foundry廠提供的標(biāo)準(zhǔn)單元、宏單元和i/o pad的庫文件，它包括物理庫、時序庫及網(wǎng)表庫，分別以.lef、.tlf和.v的形式給出。前端的芯片設(shè)計經(jīng)過綜合后生成的門級網(wǎng)表，具有時序約束和時鐘定義的腳本文件和由此產(chǎn)生的.gcf約束文件以及定義電源pad的def（designexchange format）文件。(對synopsys 的astro 而言，數(shù)字電壓，經(jīng)過綜合后生成的門級網(wǎng)表，時序約束文件 sdc是一樣的，pad的定義文件--tdf ， .tf 文件 --technology file， foundry廠提供的標(biāo)準(zhǔn)單元、宏單元和i/opad的庫文件就與fram， cell view， lm view 形式給出(milkway 參考庫 and db， lib file)
2. 布局規(guī)劃。
主要是標(biāo)準(zhǔn)單元、i/o pad和宏單元的布局。i/opad預(yù)先給出了位置，數(shù)字電壓定義，而宏單元則根據(jù)時序要求進行擺放，標(biāo)準(zhǔn)單元則是給出了一定的區(qū)域由工具自動擺放。布局規(guī)劃后，芯片的大小，core的面積，row的形式、電源及地線的ring和strip都確定下來了。如果必要在自動放置標(biāo)準(zhǔn)單元和宏單元之后，直流數(shù)字電壓表電路圖，你可以先做一次pna(power network analysis）--ir drop and em .
3. placement -自動放置標(biāo)準(zhǔn)單元。
布局規(guī)劃后，宏單元、i/o pad的位置和放置標(biāo)準(zhǔn)單元的區(qū)域都已確定，這些信息se（siliconensemble）會通過def文件傳遞給(physicalcompiler)，pc根據(jù)由綜合給出的.db文件獲得網(wǎng)表和時序約束信息進行自動放置標(biāo)準(zhǔn)單元，同時進行時序檢查和單元放置優(yōu)化。如果你用的是pc astro那你可用write_milkway，三位半數(shù)字電壓表的設(shè)計， read_milkway 傳遞數(shù)據(jù)。
數(shù)字ic后端設(shè)計（三)
9. dummy metal的增加。
foundry廠都有對金屬密度的規(guī)定，使其金屬密度不要低于一定的值，以防在芯片制造過程中的刻蝕階段對連線的金屬層過度刻蝕從而降低電路的性能。加入dummy metal是為了增加金屬的密度。
10. drc和lvs。
drc是對芯片版圖中的各層物理圖形進行設(shè)計規(guī)則檢查(*cing ，width)，它也包括天線效應(yīng)的檢查，以確保芯片正常流片。lvs主要是將版圖和電路網(wǎng)表進行比較，來保證流片出來的版圖電路和實際需要的電路一致。drc和lvs的檢查--eda工具 synopsy hercule*e*r calibre/ cdn dracula進行的.astro also include lvs/drc check commands.
11. tape out。
在所有檢查和驗證都正確無誤的情況下把后的版圖gdsⅱ文件傳遞給foundry廠進行掩膜制造。
深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)ic電子元器件的代理銷售企業(yè)，*從事各類驅(qū)動ic、存儲ic、傳感器ic、觸摸ic銷售，品類齊全，具備上百個型號。
應(yīng)用驗證是指導(dǎo)ic元器件在系統(tǒng)中的可靠應(yīng)用的關(guān)鍵，*要關(guān)注應(yīng)用系統(tǒng)對器件接口信號的影響，因此無論是采用純軟件還是軟硬件協(xié)同的方式進行應(yīng)用驗證都需要先完成應(yīng)用系統(tǒng)的pcb工作。本文提出的應(yīng)用驗證技術(shù)方案以基ibis模型在多個平臺進行pcb si(signal integrity)的方式提取出所需的數(shù)據(jù)，實現(xiàn)對系統(tǒng)應(yīng)用環(huán)境的模擬;在此基礎(chǔ)上通過軟件和軟硬件協(xié)同兩種方法來實現(xiàn)數(shù)字ic器件的應(yīng)用驗證。為保證應(yīng)用驗證的順利進行，對方案中涉及到的ibis建模、pcb si和s參數(shù)的提取及等技術(shù)進行了研究。
提出的應(yīng)用驗證技術(shù)方案的指導(dǎo)下，以sram的應(yīng)用驗證為例進行了相關(guān)的技術(shù)探索。首先對ibis模型建模技術(shù)進行了深入研究，并完成了sram以及80c32等相關(guān)ic器件的ibis模型建模工作;接著基于ibis模型進行pcb si，模擬了sram的板級應(yīng)用環(huán)境并提取了應(yīng)用驗證所需的數(shù)據(jù);后分別對適用于sram的軟件平臺和軟硬件協(xié)同平臺進行了相關(guān)設(shè)計，并完成了sram的應(yīng)用驗證。通過對sram的應(yīng)用驗證，證明了本文所提出的應(yīng)用驗證技術(shù)方案的可行性。