生產銷售ZSW-110/8瓷支柱絕緣子

瓷支柱絕緣子異常發熱的主導誘因,在實驗室內,對局部發熱明顯的試品在未經處理、干燥與浸泡處理等三種不同狀態別施加20kv工頻電壓,記錄不同時長下的紅外熱像分布圖和泄漏電流。研究表明:該試品發熱的主要原因為水分子通過裂紋侵入瓷體,在電場作用下產生轉向極化所致。在未經處理、浸泡處理后,試品異常發熱區域熱點溫度和溫升變化可分為上升、下降、小幅振蕩及穩定等四個階段。在浸泡處理后,試品發熱區域熱點溫度和溫升同未經處理、干燥兩種狀態下的數據相比,數值值增加明顯。浸泡處理后的泄漏電流變化同熱點溫度變化過程基本一致,但上升、下降、小幅振蕩過程呈現出持續時長短、拐點出現時間早的特點。生產銷售zsw-110/8瓷支柱絕緣子