天津普通透射電鏡測(cè)試費(fèi)用-九鼎-天津普通透射電鏡測(cè)試

掃描電鏡對(duì)樣品的要求
掃描電鏡對(duì)樣品的要求
樣品制備方法
1、塊樣
對(duì)于金屬、巖礦或無(wú)機(jī)物，切割成要求的尺寸，粘在樣品臺(tái)上。如果樣品數(shù)量多，注意樣品尺寸一致。
微區(qū)成份分析樣品表面應(yīng)該平臺(tái)或經(jīng)研磨拋光，可以保證檢測(cè)時(shí)幾何條件不變。對(duì)于樣品的斷口面，天津普通透射電鏡測(cè)試機(jī)構(gòu)，要選擇起伏不大的部位，是分析點(diǎn)附近有小的平坦區(qū)。樣品表面和底面應(yīng)該平行。
非導(dǎo)電或?qū)щ娦暂^差的材料，要*行鍍膜處理，在材料表面形成一層導(dǎo)電膜。以避免電荷積累，影響圖像質(zhì)量，并可防止試樣的熱損傷。
2、粉樣
（1）微米級(jí)粉料：將粉樣撒在樣品臺(tái)的雙面膠上，用手指輕彈樣品臺(tái)四周，天津普通透射電鏡測(cè)試中心，粉料會(huì)均勻地向四周移動(dòng)，鋪平一層，側(cè)置樣品臺(tái)，把多余粉料抖掉；用紙邊輕刮、輕壓粉料面，使粉料與膠面貼實(shí)；用耳球從不同方向吹拂粉料。經(jīng)此過(guò)程，粉料已牢固、均勻地粘在雙面膠上。
（2）對(duì)于亞微米級(jí)或納米粉料進(jìn)行成分分析：利用壓片機(jī)壓成結(jié)實(shí)的薄片。把薄片用雙面膠粘在樣品臺(tái)上。
掃描電鏡基本操作
需要熟悉的掃描電鏡基本操作
基本操作包括熟練的調(diào)節(jié)對(duì)焦和消像散。對(duì)焦相對(duì)容易，改變焦距，直至圖像清楚的時(shí)刻即為合焦。在偏離焦距較多的時(shí)候可以用較高的靈敏度，在合焦點(diǎn)附近調(diào)低靈敏度，以便進(jìn)行準(zhǔn)確對(duì)焦。
基本操作中消像散相對(duì)來(lái)說(shuō)比較麻煩，特別是像散很大時(shí)，對(duì)于很多初學(xué)者來(lái)說(shuō)調(diào)節(jié)比較困難。不過(guò)前面已經(jīng)介紹了像散的產(chǎn)生，天津普通透射電鏡測(cè)試費(fèi)用，電子束由于不再是圓形，所以在像散未消除的情況下，圖像是不清晰的。不過(guò)其中有兩個(gè)特殊的位置，天津普通透射電鏡測(cè)試，即光學(xué)中的子午和弧矢，在這兩個(gè)位置上束斑完全成正交的直線(xiàn)。而明晰圓一般在弧矢和子午的中間。
有關(guān)拉伸方向的判斷并不困難，試樣中的各種特征點(diǎn)都可以作為判斷依據(jù)，尤其在像散比較大時(shí)，不要焦距和像散的兩個(gè)維度亂調(diào)一氣，以免像散過(guò)大而完全無(wú)從判斷。
掃描式電子顯微鏡工作原理
　掃描式電子顯微鏡是一種超高分辨的具表面測(cè)試技術(shù)的分析儀器。可用于微粒、金屬薄片等表面性質(zhì)的研究。主要是利用電子束在樣品表面上逐點(diǎn)掃描，通過(guò)電子束與樣品相互作用，從樣品上激發(fā)出與樣品性質(zhì)有關(guān)的各種信息（如二次電子、背射電子、`x`射線(xiàn)等），通過(guò)分別收集這些從樣品上激發(fā)出的信息，經(jīng)電子線(xiàn)路放大處理后輸入以陰*射線(xiàn)管的柵*，控制其電子束的強(qiáng)弱，也即控制陰*射線(xiàn)管的亮度來(lái)顯示樣品的圖象。可進(jìn)行各種圖象觀察、元素分析及品體結(jié)構(gòu)分析。
掃描式電子顯微鏡的制造依據(jù)是電子與物質(zhì)的相互作用。
掃描式電子顯微鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過(guò)對(duì)這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測(cè)試試樣表面形貌的觀察。
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